Dobrý den,
objednávky z druhé poloviny prosince 2024 budou vyřizovány v nejbližší možné době. (2. pracovní týden 2025)

Děkujeme za pochopení.
0 Kč
/ EUR

Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN TE 1250-0.1FN.

Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN
1 2 3 4 5
Výrobce: Sauter
Kód zboží:E7449401250
Product number:TE 1250-0.1FN.
Čárový kód (EAN):4045761140134
Cena bez DPH:
14 989,00 Kč
18 136,69 Kč s DPH
Dostupnost: na dotaz
- + ks
Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN
Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN - obrázek
Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN - obrázek Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN - obrázek

Varianty

Kód Název Cena Košík
Siloměr digitální FK 100 SAUTER E7449400100

Siloměr digitální FK 100 SAUTER (FK 100.)

7 293,00 Kč
8 824,53 Kč s DPH
Siloměr digitální FK 1000 SAUTER E7449401000

Siloměr digitální FK 1000 SAUTER (FK 1K.)

7 293,00 Kč
8 824,53 Kč s DPH
Siloměr digitální FK 250 SAUTER E7449400250

Siloměr digitální FK 250 SAUTER (FK 250.)

7 293,00 Kč
8 824,53 Kč s DPH
Siloměr digitální FK 500 SAUTER E7449400500

Siloměr digitální FK 500 SAUTER (FK500)

7 293,00 Kč
8 824,53 Kč s DPH
Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN E7449401250

Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1 pro neželezné a feromagnetické podklady KERN (TE 1250-0.1FN.)

14 989,00 Kč
18 136,69 Kč s DPH
rozbalit

Info

WGNr. W498
Typ TEFN
Nejmenší konvexní testovací plocha 1,5 mm
Nejmenší konkávní testovací plocha 25 mm
Rozměry 131 x 65 x 28 mm
Strana katalogu FORMATplus 2023 4/126

Popis

Tloušťkoměr vrstev TE 1250-0.1FN

Provedení: Praktický tloušťkoměr, datové rozhraní RS232. Dodávka s nulovou deskou, seřizovací fólií, 4 mikrobateriemi AAA/LR03, 1,5 V, přenosným kufříkem.

Rozsah měření: Odečet:
• • 0 až 100 µm 0,1 µm
• • 100 až 1250 µm 1 µm

Nepřesnost měření (po kalibraci):
• • standard: 3 % nebo ±2,5 µm
• • Offset-Accur: 1 % nebo ±1 µm

Funkce:: Offset-Accus: Pomocí této funkce lze měřicí přístroj nastavit pomocí dvoubodové kalibrace přesně na konkrétní měřicí rozmezí za účelem dosažení vyššího stupně přesnosti o 1 % (nebo i méně) v měřicím rozmezí.

Se dvěma externími měřicími sondami k snadnému přiložení na měřená místa s obtížným přístupem.

Technické specifikace se mohou změnit bez výslovného upozornění. Obrázky mají pouze informativní charakter.

Individuální ceny pro registrované

Rychlé dodávky již od 24 hodin

Osobní přístup ne jen přes internet

Technická podpora i za přímé účasti výrobců

Čekejte prosím...